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美國GE超聲波探頭SEZ4R10R
詳細(xì)信息品牌：GE 型號(hào)：SEZ4R10R 加工定制：否 用途：平板、坯塊、重金屬板測(cè)試 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國 美國GE超聲波探頭SEZ4R10R
簡介
美國GE超聲波探頭 用于檢測(cè)系統(tǒng)的探頭必須在溫度變化和固定牢靠的情況下滿足水密性的要求。為了提高檢測(cè)速度和穩(wěn)定性，通常在一個(gè)探頭中包含多個(gè)晶片。在汽車和航空工業(yè)的檢測(cè)中，主要應(yīng)用的是浸入式探頭。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
聚焦的優(yōu)點(diǎn)
·球面聚焦形成點(diǎn)狀
·柱面聚焦形成線狀
球面聚焦 柱面線聚焦
聚焦優(yōu)勢(shì)
提高小缺陷檢測(cè)靈敏度
改善信躁比
詳細(xì)介紹系統(tǒng)檢測(cè)探頭 用于檢測(cè)系統(tǒng)的探頭必須在溫度變化和固定牢靠的情況下滿足水密性的要求。為了提高檢測(cè)速度和穩(wěn)定性，通常在一個(gè)探頭中包含多個(gè)晶片。在汽車和航空工業(yè)的檢測(cè)中，主要應(yīng)用的是浸入式探頭。其描述請(qǐng)見前面所述。下面這些探頭在其它的應(yīng)用中得到了非常好的考驗(yàn) 類型 技術(shù)數(shù)據(jù) 應(yīng)用 SEB2T, SEB2T0°
SEB4T, SEB4T0°
MSEB4T, SEB4T0°
SEZ4R10R
SEZ2R20R0°T2
SEZ5R40RTR探頭，2MHz，24 mm Ø
TR探頭，4MHz，24 mm Ø
TR探頭，4MHz，13 mm Ø
TR寬聲波束，4MHz
TR寬聲波束，2MHz
TR寬聲波束，5MHz測(cè)試平板、坯塊
重金屬板測(cè)試
坯塊測(cè)試W45Z2N
W45Z4N
W70Z2N
W70Z4N
RB45-N斜探頭45°，2MHz，8×9 mm
同上，4MHz
斜探頭70°，2MHz，8×9 mm
同上，4MHz
斜探頭45°，4MHz，雙晶探頭管道或壓力容器焊縫檢測(cè)管道測(cè)試 Z2N12×12 / 12×
Z4RM10×10 / 6×
W45Z4RM20×18 / 6×浸入式探頭，2MHz，12單元12×12 mm浸入式探頭，4MHz，6單元10×10 mm浸入式探頭，
4MHz，6單元20×18 mm，聲波束角度45°用多晶探頭進(jìn)行管道檢測(cè) H10MP15
H5KP…
NPK6浸入式探頭，4MHz，直徑5，點(diǎn)焦距15mm浸入式探頭，5MHz，直徑10，-40℃到+125℃，水壓60巴狹槽式探頭，6MHz 埋弧焊檢測(cè)
厚壁管道內(nèi)部檢測(cè)
活塞測(cè)試IAL-FG10.4×22.7, 5 寬聲束探頭，1 0MH z，4×2 2壓電高聚物，線聚焦 寬聲束片結(jié)構(gòu)進(jìn)行大面積檢測(cè)
H5KF
H10MP15F
Z4KF
Z4NF帶有水連接器的浸入式探頭
5MHz單元，10 mm Ø
10MHz單元，5 mm Ø，點(diǎn)焦距15 mm
4MHz單元，10 mm Ø
4MHz單元，20 mm Ø用噴泉式或噴射式檢測(cè)大部件零件詳見宣傳單GK45
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